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飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 于 2016 年 3 月落戶北京科技大學。北京科技大學的用戶主要觀察各種合金材料中夾雜物相及其拉伸斷裂斷口形態，飛納臺式掃描電鏡樣品室版 Phenom XL 配備的背散射電子和二次電子探測器可滿足該用戶所有待觀測樣品的測試需求。觀察合金材料中夾雜物相， Phenom XL 的背散射電子探測器是不錯的選擇，因為使用背散射電子探測器可以同時觀察樣品表面的形貌和成分信息，從而幫助用戶區分出夾雜物。當觀察合金材料拉伸斷裂斷口形態時，可以使用  Phenom XL 的二次電子探測器，您將獲得清晰立體的斷口形態掃描電鏡圖像。Phenom XL 采用壽命為 1500 小時的 CeB6 燈絲，亮度是鎢燈絲的 10 倍，可以顯著提高掃描電鏡圖像的分辨率，提供表面細節豐富的高質量圖片。

背散射電子像觀察鋁合金中各種夾雜物相

二次電子觀察鋁合金拉伸斷裂斷口

飛納電鏡操作簡易，非常適合沒有掃描電鏡操作經驗的用戶。自動馬達樣品臺配合光學導航，僅需 15s 的抽真空時間，可以方便快速地檢測樣品。能譜 EDS *的反卷積擬合功能使得定性和定量更加準確可信。飛納臺式掃描電鏡樣品室版 Phenom XL 必將有力推動中國新金屬材料的發展。

鋁合金中的鐵析出相成分及含量判定

用戶認真學習飛納電鏡

順利拿到培訓合格證書

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